Аннотация. В статье рассматривается новый способ диагностического контроля и отбраковки потенциально ненадёжных микросхем с КМОП структурой. Рассмотрено влияние дефектов на динамические параметры микросхем. Приведены схемы замещения и базового элемента структуры. Предложена установка для отбраковки микросхем. Приведены значения времени срабатывания для выборки микросхем.
Ключевые слова: диагностика, контроль, микросхема, КМОП-структура, схема замещения, базовый элемент, установка для отбраковки, информативный параметр
Abstract. The article deals with a new method of diagnostic testing and culling of potentially unreliable chip CMOS structure. The influence of defects on the dynamic parameters of the circuits. Shows the equivalent circuit and the basic element of the structure. Proposed setting for rejection circuits. The values of the response time for the sample chip.
Keywords: diagnosis, control, chip, CMOS structure, еquivalent circuit, the basic element, the apparatus for culling, informative parameter